中心成員

六靶式磁控濺鍍機

  >  用途 : 磁性薄膜製程設備
 

變溫式振動樣品磁測儀(VSM)

  >  用途 : 磁性與電性樣品特性檢測
 
光學磁區分析儀

  >  用途 : 磁區微結構分析
 
高解析偏光顯微鏡

  >  用途 : 樣品表面觀測
 
多功能磁滯曲線偵測儀

  >  用途 : 磁滯曲線之量測與磁阻效應之分析
多功能光碟測試機

  >  用途 : 光資訊儲存之量測
 
導電式原子力顯微鏡(CAFM)

  >  用途 : I-V曲線、MR、RA等檢測
 
近場光學掃瞄式顯微鏡(NSOM

  >  用途 : 反射式與穿透式光學剖面影像分析
 
交替式梯度磁場量測儀

  >  用途 :磁滯曲線檢測
 

MRAM量測測試平台

  >  用途 : MRAM特性檢測
 

   >  E-mail: spin@yuntech.edu.tw    >  Tel : 05-5342601#3191 or 3169    Fax:05-5312174